Magma Design Automation, Inc. - Integrated RTL to GDII Design and Analysis Solutions
   
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Blast Rail NX
 
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Blast Rail® NX为集成电路设计师提供了整合的功率分析和规划、电压下降分析、电压下降导致的延迟分析,以及发生在线圈和通路上的电子迁移分析,使得他们能够在设计中保持功率的完整性。Blast Rail NX与微捷码(Magma)从RTL到GDSII的实施流程完全整合在一起,确保了一种构建即成功的线路设计解决方案。

随着便携式电子产品对电池供电的使用日渐增多,推动了对功耗最小的数字集成电路(ICs)的需求。在大型的、复杂的片上系统上实施可靠的电源网络,同时无需牺牲器件性能,确保最小的功率损耗,成为当前最主要的设计挑战。当器件的特性尺寸紧缩到0.18微米以下时,电压下降和电子迁移效应变成了重要的设计权衡因素。这些效应与时序、信号完整性(SI)问题密切相关,例如串绕效应既会产生噪声,又会产生延迟。

传统的功率和电压下降分析工具运行在不同的环境中,而不是实施工具中,通常会在布局之后导致耗时的多次设计迭代。同时缺乏准确的、关联的分析能力同时也会导致过度严格的设计,进而引起拥塞问题并导致不理想的芯片性能。
通过Blast Rail NX,微捷码(Magma)在从RTL到GDSII流程中整合了确保功率完整性的解决方案,实现了面积、功率、时序以及SI效应的整体设计收敛。通过在整个设计实施流程中实施准确的功率完整性分析和管理,Blast Rail NX确保了快速收敛。
 
主要特点:
准确的、嵌入式的功率分析
  • 静态和动态分析
  • 来自.lib的简单而灵活的设置
  • 网络开关活动设置,或通过VCD或GAF文件设置
  • 多重操作模式分析
  • 活动传播
快速、准确的线路分析
  • 静态、动态和瞬时电压下降分析
  • 自动线路提取
  • 准确的电源网络宏建模
  • 快速矩阵求解器计算电压下降
  • 解耦电容分析
  • 早期的可行性分析
  • 假设分析,评估多功率网格
  • 局部地分析布局设计
  • 分析局部网格s
电子迁移
  • 层和通路的平均、峰值和RMS电流密度限制分析
  • 基于EM的线圈扩展
  • 基于EM的双通路构建
电压下降导致的延迟
  • 特定场合的降低
  • 确保收敛的静态和瞬时增量时序
热分析
  • 基板功率生成和连接线自加热分析,准确地确定可靠性、泄漏功率和开关性能
高容量、层次化分析(>2千万门极)
  • GlassBox技术确保准确地提取和大块数据减少
  • 通过黑盒子支持知识产权(IPs)
可视化/报告
  • 功率损耗的详细报告
  • 电压下降的详细报告,识别问题节点和位置
  • 基于图形用户接口(GUI)的功率可视化(功率、功率密度、电流、电流密度)
  • 基于GUI的线圈、单元、区域和全局电压下降的可视化
  • 电压下降导致的延迟时序报告
  • 易受线路电子迁移影响的所有层和通路报告
  • 线路电子迁移问题报告
  无缝整合到BlastPower中,实现低功耗设计实施
  • 有功率意识的综合、布局和布线
  • 通过电压岛支持自动化的设计方法论
  • 利用多-Vt库、多阈值CMOS(MTCMOS)和可变阈电压CMOS(VTCMOS)单元减少泄漏功率
  • 自动功率网格分析
拥有灵活的第三方接口的开放式系统
  • 通过M-Tcl轻松使用数据模型
  • 支持行业标准文件和库格式,包括.lib,LEF,DEF,GDSII,SPEF,SDF
输入
  • 平面布局-DEF
  • 网表-Verilog
  • 库-.lib,LEF,GDSII
  • 寄生效应-SPEF
  • 约束条件-SDC
  • 延时-SDF
  • Volcano®
  • 活动-VCD,GAF
输出
  • 平面布局-DEF
  • 网表-Verilog
  • 寄生效应-SPEF
  • 延时-SDF
  • Volcano
  • 多种分析报告
平台
  • Sun Solaris
  • Linux


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