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利用SiliconSmart实现信号完整性(SI)和噪音特征及建模解决方案
由于串扰导致的噪音会引发延迟下降、保持时间冲突或者伪逻辑转换，因此不断增加的电容耦合度有可能给设计带来灾难性的破坏。这些噪音效应将导致低性能的设计，甚至是功能完全失效的设计。支持这些新型信号完整性(SI)流程的挑战就转嫁给了库供应商。同时EDA工具供应商提供各种门极SI分析、修正以及规避功能，因此所有这些工具都需要新的和陌生的库模型结构。由于瞬时脉冲波形必须加以考虑，而不是传统的近乎线性的转换，因此特征的复杂性大大的增加了。此外，大多数库供应商必须支持多种工具和格式。不断地增加有限的资源和开发人员，开发和部署新的库。
实现现代设计团队需要的真正的信号完整性
具备SI选项的SiliconSmart是经过实践证明的，实用的特征和建模解决方案，以生成先进的噪音库所需要的精度和产能，能够帮助库供应商们应对挑战。
由于对精确的SI模型的有限访问，通常，分析工具标记了无数的可能冲突。设计师们必须耗费数天找出这些伪正确的问题，有可能根本就不存在。最新的SI工具减缓了这种问题；但是，精确的模型依然是发挥这些工具全部潜能的关键因素。利用准确的模型，在提交到硅片阶段之前，能够识别出真正的问题，继而修正这些问题。
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