在65 奈米和以下制程, 通过传统签核标准的设计也许仍然会由於影响两个设备特徵和互联的处理变异而在硅中失败。Quartz SSTA补充传统基於角落的签核方法, 用对变异敏感的细胞和时钟网和资料通路进行强有力和准确的统计静态时间分析(SSTA)。然後Quartz SSTA与Magma (微捷码) IC 实施系统共同运作,自动地解决起因於这些变异的计时问题。

概论:

半导体过程在65奈米和之下展示了更大的变化在对制造和更多对越来越影响电路表现的操作环境参量的敏感性上 。由於他们依靠运行静态时间分析(STA) 在过程和环境角落的数字增长以高度控制结合的晶片变异(OCV) 分析和根据低下的、最坏的门极和互联模型获得电路计时, 导致传统签核流程非常保守和不精确。这些流程无法计量过程和金属变异, 导致设计师签核可能最後无法会在硅中失败的设计。这种不可靠的方法导致更低的表现和更长, 更昂贵的设计周期。

SSTA 使用延迟分布,而不是固定的延迟; 导致高度准确统计的任意分布, 而不是唯一最佳情形和最坏情形的数字。在与实际半导体过程的密切联系中, 它可能导致过程和金属变异。这种高度准确方法要求少量时间运行, 减少设计周期和使设计师在交货时有信心达到他们的计时目标。

特点：

• 充分整合进入Magma (微捷码) IC 实施系统
• 时间产能分析与优化快速地在设计流程中执行
• 基於路径的分析和非Gaussian 的延迟分布高度准确
• 基於区块的定像和优化能力高度表现
• 完全支持inter-die, intra-die, 内部细胞和全球性, 地方性, 随机和系统的变异
• 完全支持多个处理参量中复杂系统的交互作用
• 特点有特徵表徵, 参数提取、分析和设计优化
• 用户特徵的图书馆或统计特徵表徵的支持
• 完全支持统计细胞、互联和阶段延迟演算
• 最坏情节金属变异分析获得全部可能的失败
• 强有力图解和文字报告能力
• 报告时钟和资料通路所有统计时间度量

• 参量分布资料和细胞敏感性资料

• Netlist
• 设计限制
• LEF, DEF, GDSII
• 技术文件供提取用

• 文字统计时间和敏感性报告
• 图解, 统计和设计强轫性资料

• Solaris
• Linux